特許

J-GLOBAL ID：201503019918818991

貴金属量算出装置および貴金属量算出方法

発明者： 上原 康
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人深見特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-036812
公開番号（公開出願番号）：特開2015-161579
出願日： 2014年02月27日
公開日（公表日）： 2015年09月07日
要約：

【課題】使用済み家電製品および情報機器等から回収される電子基板全体に含まれる貴金属および銅の量を非破壊で算出可能な貴金属量算出装置および貴金属量算出方法を提供する。【解決手段】X線センサ部材1,2は、測定対象物6にX線を照射して得られるX線透視像を供給可能である。光学センサ部材3は、測定対象物6の一方の主表面60Aおよび他方の主表面60Bの双方の光学画像を供給可能である。電磁波センサ部材4,5は、電磁波を測定対象物6に照射して得られる反射強度分布像を供給可能である。演算判定部7は、X線透視像と光学画像と反射強度分布像とに基づき測定対象物6に含まれる貴金属の量を算出する。演算判定部7は、X線透視像および光学画像に基づいて、測定対象物6に搭載される部品61の種類を特定するためのデータベースを含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象物にX線を照射して得られるX線透視像を供給可能なX線センサ部材と、 前記測定対象物の一方の主表面および他方の主表面の双方の光学画像を供給可能な光学センサ部材と、 電磁波を前記測定対象物に照射して得られる反射強度分布像を供給可能な電磁波センサ部材と、 前記X線透視像と前記光学画像と前記反射強度分布像とに基づき前記測定対象物に含まれる貴金属の量を算出する演算判定部とを備え、 前記演算判定部は、前記X線透視像および前記光学画像に基づいて、前記測定対象物に搭載される部品の種類を特定するためのデータベースを含む、貴金属量算出装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G01N 21/27

FI (2件)：

G01N23/04 ,  G01N21/27 Z

Fターム (26件)：

2G001AA01 ,  2G001AA07 ,  2G001BA11 ,  2G001BA14 ,  2G001CA01 ,  2G001CA07 ,  2G001GA01 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001KA01 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001NA12 ,  2G001NA13 ,  2G001NA16 ,  2G001NA17 ,  2G059AA01 ,  2G059BB08 ,  2G059CC03 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01