特許
J-GLOBAL ID：201503020008209230
射出成形機の可動部の劣化検出方法および可動部の劣化検出機能を有する射出成形機の制御装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
あいわ特許業務法人
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-089863
公開番号（公開出願番号）：特開2013-216030
特許番号：特許第5800750号
出願日： 2012年04月11日
公開日（公表日）： 2013年10月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 射出成形機の可動部を駆動するサーボモータと、前記サーボモータの閉ループ周波数特性を測定する周波数特性測定部とを有する射出成形機の制御装置において、
前記可動部が正常な状態における基準周波数特性において第1の周波数におけるゲイン値を基準ゲイン値として記憶する基準ゲイン値記憶部と、
任意のタイミングで前記サーボモータの少なくとも第1の周波数を含む閉ループ周波数特性を現在の周波数特性として測定する現在周波数特性測定部と、
前記現在の周波数特性における第1の周波数におけるゲイン値と基準ゲイン値との偏差を算出するゲイン偏差値算出部と、
前記算出したゲイン偏差値の絶対値が閾値を超えた場合、前記可動部が劣化したと判定する劣化判定部とを有することを特徴とする射出成形機の制御装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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