特許
J-GLOBAL ID:201503020814201656
部品検出装置、方法、及びプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人太陽国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-098960
公開番号(公開出願番号):特開2015-215805
出願日: 2014年05月12日
公開日(公表日): 2015年12月03日
要約:
【課題】撮影された画像から精度よく部品を検出することができる。【解決手段】画像二値化部26により、入力された画像について、二値化高周波画像と、二値化低周波画像とを取得し、小型部品候補領域抽出部28により、二値化高周波画像について、収縮処理を行った後、膨張処理を行い、小型部品候補領域を抽出し、ヒストグラム作成部30により、二値化低周波画像の色値のヒストグラムを作成し、代表色推定部32により、ヒストグラムに基づいて、大型部品の色値を推定し、指定色領域抽出部34により、指定色領域画像を取得し、大型部品候補領域抽出部36は、指定色領域画像について、収縮処理を行った後、膨張処理を行い、大型部品候補領域を抽出し、部品検出部40により、小型部品候補領域から、小型部品を検出し、大型部品候補領域から、大型部品を検出する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
入力された画像について、空間的に画素値が大きく変化する画素を高周波画素として検出し、検出された高周波画素の画素値を1とし、前記高周波画素以外の画素である低周波画素の画素値を0とした二値化高周波画像と、前記二値化高周波画像に含まれる画素の各々の画素値を反転した二値化低周波画像とを取得する画像二値化部と、
前記画像二値化部により取得された二値化高周波画像について、収縮処理を行った後、膨張処理を行い、前記膨張処理後の前記二値化高周波画像に含まれる、画素値が1である画素からなる領域を、小型部品候補領域として抽出する小型部品候補領域抽出部と、
前記画像二値化部により取得された二値化低周波画像と、前記入力された画像とに基づいて、前記二値化低周波画像に含まれる画素値が1の画素の各々についての色値のヒストグラムを作成するヒストグラム作成部と、
前記ヒストグラム作成部により作成されたヒストグラムに基づいて、大型部品の色値を推定する代表色推定部と、
前記代表色推定部により推定された色値と、前記二値化低周波画像と、前記入力された画像とに基づいて、前記二値化低周波画像に含まれる画素値が1の画素のうち、前記推定された色値に対応する色値を有する画素の各々を特定し、特定された画素の画素値を1とし、前記特定された画素以外の画素の画素値を0とした指定色領域画像を取得する指定色領域抽出部と、
前記指定色領域抽出部により取得された指定色領域画像について、収縮処理を行った後、膨張処理を行い、前記膨張処理後の前記指定色領域画像に含まれる画素の画素値が1である領域を大型部品候補領域として抽出する大型部品候補領域抽出部と、
予め定められた小型部品を表す画像に基づいて、前記小型部品候補領域抽出部により抽出された小型部品候補領域から、前記小型部品を検出し、予め定められた大型部品を表す画像に基づいて、前記大型部品候補領域抽出部により抽出された大型部品候補領域から、前記大型部品を検出する部品検出部と、
を含む、部品検出装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (13件):
5B057AA03
, 5B057CA01
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CE06
, 5B057CE12
, 5B057DA06
, 5B057DB02
, 5B057DB06
, 5B057DB09
, 5B057DC19
, 5B057DC32
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