特許
J-GLOBAL ID：201503021005937508
分光特性測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-539680
特許番号：特許第5765693号
出願日： 2013年09月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 a)固定反射部と、
b)該固定反射部の反射面と平行な反射面を有し、前記固定反射部の反射面に対して垂直方向に移動可能な可動反射部と、
c)被測定物の内部の複数の測定点から発せられた測定光を前記固定反射部の反射面と前記可動反射部の反射面に入射させる入射光学系と、
d)前記固定反射部の反射面で反射された固定反射測定光と前記可動反射部の反射面で反射された可動反射測定光を同一点に導いて両反射測定光の干渉光を形成する結像光学系と、
e)前記干渉光の強度を検出するための複数の画素を有する光検出部と、
f)前記結像光学系と前記光検出部の間の光路に配置された透過率が異なる複数の領域を有するフィルタであって、前記複数の測定点から発せられた該複数の測定光は前記複数の領域のうちの2つ以上の領域に分かれて透過した後、前記複数の画素のいずれかに入射し、各画素に入射する干渉光を形成する固定反射測定光と可動反射測定光が同じ領域を透過するように構成された減光フィルタと、
g)前記可動反射部を移動させたときの前記光検出部の各画素の検出信号から前記測定光のインターフェログラムを前記2つ以上の領域にそれぞれ対応する透過率で求め、このインターフェログラムに基づき測定光のスペクトルを求める演算処理部と
を備えることを特徴とする分光特性測定装置。
IPC (4件)：
G01J 3/45 ( 200 6.01)
, G01N 21/3563 ( 201 4.01)
, G01N 21/359 ( 201 4.01)
, A61B 5/1455 ( 200 6.01)
G01J 3/45
, G01N 21/356
, G01N 21/359
, A61B 5/14 322
