補間を介する、メモリセルと関連付けられた閾値電圧分布の推定

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：大菅義之 , 野村泰久
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-530054
公開番号（公開出願番号）：特表2015-532760
出願日： 2013年08月29日
公開日（公表日）： 2015年11月12日
要約：

本開示は、補間を介して、メモリセルと関連付けられた閾値電圧分布を推定するための装置および方法を含む。いくつかの実施形態は、各々がいくつかのデータ状態のうちの1つにプログラムされたメモリセル群のソフトデータであって、いくつかの異なるソフトデータ値を含む、ソフトデータを決定することと、異なるソフトデータ値の各々と関連付けられたメモリセルの数量を決定することと、異なるソフトデータ値の各々と関連付けられたメモリセルの決定された数量を使用して、補間プロセスを介して、メモリセル群と関連付けられた閾値電圧分布の少なくとも一部分を推定することとを含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

メモリを動作するための方法であって各々がいくつかのデータ状態のうちの1つにプログラムされるメモリセル群のソフトデータであって、いくつかの異なるソフトデータ値を含む、ソフトデータを決定することと、前記異なるソフトデータ値の各々と関連付けられたメモリセルの数量を決定することと、前記異なるソフトデータ値の各々と関連付けられたメモリセルの前記決定された数量を使用して、補間処理を介して、前記メモリセル群と関連付けられた閾値電圧分布の少なくとも一部分を推定することと、を含む、方法。

IPC (3件)：

G11C 16/06 , G11C 16/04 , G11C 16/02

FI (5件)：

G11C17/00 633B , G11C17/00 634E , G11C17/00 622E , G11C17/00 641 , G11C17/00 639C

Fターム (7件)：

5B225BA01 , 5B225BA19 , 5B225CA21 , 5B225DA10 , 5B225DE08 , 5B225EA05 , 5B225EG16

引用特許：

審査官引用 (1件)

コントローラ
公報種別：公開公報出願番号：特願2009-187827 出願人：株式会社東芝

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