特許
J-GLOBAL ID：201503021412810628
半導体集積回路装置
発明者：
,
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
玉村 静世
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-009657
公開番号（公開出願番号）：特開2013-150184
特許番号：特許第5779511号
出願日： 2012年01月20日
公開日（公表日）： 2013年08月01日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 第一アナログ信号と第一アナログ信号と位相の異なる第二アナログ信号とを出力する第一アナログ回路と、
前記第一アナログ回路からの前記第一アナログ信号を受けて第一デジタル信号を出力する第一AD変換器と、
前記第一アナログ回路からの前記第二アナログ信号を受けて第二デジタル信号を出力する第二AD変換器と、
前記第一及び第二AD変換器からの前記第一及び第二デジタル信号を受けてデジタル処理を行うデジタル処理回路と、
モード情報を格納するためのモード設定情報格納回路と、
前記第一及び第二AD変換器のための補正係数を格納する補正係数格納回路とを有し、
前記モード設定情報格納回路に第一モードが設定された時、前記第一及び第二AD変換器に共通に第一テスト信号が入力されることにより、第一デジタル補正処理のための第一補正係数と第二デジタル補正処理のための第二補正係数とが算出され、
前記モード設定情報格納回路に第二モードが設定された時、前記第一アナログ回路から前記第一及び第二アナログ信号が出力され、前記第一AD変換器が前記補正係数格納回路に格納された前記第一補正係数を用いて前記第一デジタル補正処理を行うことで前記第一アナログ信号を前記第一デジタル信号に変換し、前記第二AD変換器が前記補正係数格納回路に格納された前記第二補正係数を用いて前記第二デジタル補正処理を行うことで前記第二アナログ信号を前記第二デジタル信号に変換し、
前記第一アナログ信号及び前記第一テスト信号を受け、前記第一アナログ信号の出力と、前記第一テスト信号の出力とを切り替える第一切り替え回路と、
前記第二アナログ信号及び前記第一テスト信号を受け、前記第二アナログ信号の出力と、前記第一テスト信号の出力とを切り替える第二切り替え回路とを更に有し、
前記第一アナログ回路は外部からの通信信号を受けて前記第一及び第二アナログ信号を出力し、
前記第一AD変換器は前記第一アナログ信号が入力され第三デジタル信号を出力する第一AD変換部と、第三デジタル信号を受けて前記第一デジタル信号を出力する第一デジタル補正部とを有し、
前記第二AD変換器は前記第二アナログ信号が入力され第四デジタル信号を出力する第二AD変換部と、第四デジタル信号を受けて第二デジタル信号を出力する第二デジタル補正部とを有し、
前記第一モードにおいては、前記第一及び第二切り替え回路から前記第一テスト信号が出力されて、前記第一及び第二AD変換部に共通に前記第一テスト信号が入力されることにより、前記第一デジタル補正部からの前記第一デジタル信号と前記第二デジタル補正部からの前記第二デジタル信号との間の差分に基づく差分出力が算出され、この前記差分出力に基づいて前記第一デジタル補正部のための前記第一補正係数と前記第二デジタル補正部のための前記第二補正係数とが算出され、
前記第二モードにおいては、前記第一切り替え回路から前記第一アナログ信号が出力されかつ前記第二切り替え部から前記第二アナログ信号が出力され、前記第一補正係数を用いて前記第三デジタル信号に対して前記第一デジタル補正処理を行うことで前記第一デジタル補正部が前記第一デジタル信号を出力し、前記第二補正係数を用いて前記第四デジタル信号に対して前記第二デジタル補正処理を行うことで前記第二デジタル補正部が前記第二デジタル信号を出力する半導体集積回路装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
全件表示
審査官引用 (5件)
全件表示
前のページに戻る
