特許
J-GLOBAL ID：201503021701486684

X線画像処理装置および方法、並びにX線撮像装置、プログラム

発明者：
近江 裕行

近江 裕行 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-213224
公開番号（公開出願番号）：特開2015-073800
出願日： 2013年10月10日
公開日（公表日）： 2015年04月20日
要約：
【課題】X線の照射量にふらつきが生じても効果的にフリッカを抑制可能にする。【解決手段】X線センサにより連続して得られるフレームを画像処理するX線画像処理装置は、連続して得られるフレームの各々を解析して第1の解析値と第2の解析値を取得し、連続して得られるフレームの第1および第2の解析値の時間方向の統計量を第1および第2の統計量として算出する。X線画像処理装置は、算出された第1および第2の統計量に基づいて、第1の解析値を補正するか否かを判定し、補正すると判定された場合に、第1の統計量に基づいて第1の解析値を補正する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
X線センサにより連続して得られるフレームを画像処理するX線画像処理装置であって、 前記連続して得られるフレームの各々を解析して第1の解析値と第2の解析値を得る解析手段と、 前記連続して得られるフレームの前記第1の解析値と第2の解析値の時間方向の統計量を第1の統計量と第2の統計量として算出する算出手段と、 前記第1の統計量と第2の統計量に基づいて、前記第1の解析値を補正するか否かを判定する判定手段と、 前記判定手段により補正すると判定された場合に、前記第1の統計量に基づいて前記第1の解析値を補正する補正手段と、を備えることを特徴とするX線画像処理装置。
IPC (1件)：
A61B 6/00
FI (1件)：
A61B6/00 350M
Fターム (9件)：
4C093AA01 ,  4C093CA09 ,  4C093FA18 ,  4C093FA45 ,  4C093FD03 ,  4C093FD09 ,  4C093FD11 ,  4C093FF08 ,  4C093FF21
引用特許：
審査官引用 (8件)
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