特許

J-GLOBAL ID：201503024944186530

画像検出処理装置及び画像検出判定方法

発明者： 秋山 正弘
出願人/特許権者： 独立行政法人国立高等専門学校機構
代理人 (1件)： 三枝 弘明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-154178
公開番号（公開出願番号）：特開2015-025695
出願日： 2013年07月25日
公開日（公表日）： 2015年02月05日
要約：

【課題】高速な画像の判定処理を実行することのできる画像検出処理装置及び画像検出判定方法を実現する。【解決手段】本発明に係る画像検出処理装置は、各画素の受光量に応じた判定対象信号を出力する判定対象検出部A、判定対象信号と比較するための比較信号を保持する比較メモリB、及び、判定対象信号と比較信号を比較して判定対象信号が比較信号に一致若しくは近似するか否かを判定して、第1の画素判定結果と第2の画素判定結果のいずれかを示す画素判定信号を出力する比較判定部Cをそれぞれ有する複数の画素判定回路部と、複数の画素判定回路部の画素判定信号が全て第1の画素判定結果を示す場合には第1の画像判定結果を示し、複数の画素判定回路部の画素判定信号の少なくともいずれか一つが第2の画素判定結果を示す場合には第2の画像判定結果を示す画像判定信号を出力する画像判定回路部と、を具備する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

複数の画素の受光量に応じた画像判定信号を出力する画像検出処理装置であって、 各画素の受光量に応じた判定対象信号を出力する判定対象検出部、前記判定対象信号と比較するための比較信号を保持する比較メモリ、及び、前記判定対象信号と前記比較信号を比較して前記判定対象信号が前記比較信号に一致若しくは近似するか否かを判定して、第1の画素判定結果と第2の画素判定結果のいずれかを示す画素判定信号を出力する比較判定部をそれぞれ有する複数の画素判定回路部と、 前記複数の画素判定回路部の前記画素判定信号が全て前記第1の画素判定結果を示す場合には第1の画像判定結果を示し、前記複数の画素判定回路部の前記画素判定信号の少なくともいずれか一つが前記第2の画素判定結果を示す場合には第2の画像判定結果を示す前記画像判定信号を出力する画像判定回路部と、 を具備することを特徴とする画像検出処理装置。

IPC (3件)：

G01N 21/956 ,  H04N 5/369 ,  H04N 5/374

FI (3件)：

G01N21/956 B ,  H04N5/335 690 ,  H04N5/335 745

Fターム (17件)：

2G051AB02 ,  2G051AC21 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051ED07 ,  5C024CY16 ,  5C024GX03 ,  5C024GX16 ,  5C024GY31 ,  5C024HX23 ,  5C024HX27 ,  5C024HX29 ,  5C024HX51 ,  5C024HX55