特許

J-GLOBAL ID：201503024966716168

キラリティ測定方法及びキラリティ測定装置

発明者： 大園 拓哉 ,  福田 順一 ,  山本 貴広
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-161373
公開番号（公開出願番号）：特開2015-031605
出願日： 2013年08月02日
公開日（公表日）： 2015年02月16日
要約：

【課題】液晶体を利用してガス状試料におけるキラリティを測定する方法、及び、かかる方法を用いた測定装置の提供。【解決手段】軸線に沿って分子配向させたネマチック液晶体にジグ-ザグの一対からなる欠陥構造を与える。このネマチック液晶体にガス状試料を導いて欠陥構造の変化を測定する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

ガス状試料におけるキラリティの測定方法であって、軸線に沿って分子配向させたネマチック液晶体にジグ-ザグの一対からなる欠陥構造を与え、前記ネマチック液晶体に前記ガス状試料を導いて前記欠陥構造の変化を測定することを特徴とするキラリティ測定方法。

IPC (1件)：

G01N 21/21

FI (1件)：

G01N21/21 Z

Fターム (7件)：

2G059AA05 ,  2G059BB01 ,  2G059DD12 ,  2G059EE05 ,  2G059FF01 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK04

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特公昭43-004787
  
• キラルガスセンサおよび検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-358766   出願人：日本電信電話株式会社

審査官引用 (2件)

• 特公昭43-004787
  
• キラルガスセンサおよび検出方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-358766   出願人：日本電信電話株式会社

引用文献：

出願人引用 (1件)

• Zigzag line defects and manipulation of colloids in a nematic liquid crystal in microwrinkle grooves

審査官引用 (1件)

• Zigzag line defects and manipulation of colloids in a nematic liquid crystal in microwrinkle grooves