特許

J-GLOBAL ID：201503025586983372

劣化解析方法

発明者： 金子 房恵 ,  岸本 浩通
出願人/特許権者： 住友ゴム工業株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012078421
公開番号（公開出願番号）：WO2013-065809
出願日： 2012年11月02日
公開日（公表日）： 2013年05月10日
要約：

2種類以上のジエン系ポリマーを含む高分子材料の劣化状態、特に表面状態の劣化状態について、詳細に解析できる劣化解析方法を提供する。2種類以上のジエン系ポリマーを含む高分子材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、各ジエン系ポリマーの劣化状態を解析する劣化解析方法に関する。

請求項（抜粋）：

2種類以上のジエン系ポリマーを含む高分子材料に高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、各ジエン系ポリマーの劣化状態を解析する劣化解析方法。

IPC (1件)：

G01N 23/06

FI (1件)：

G01N23/06

Fターム (16件)：

2G001AA01 ,  2G001BA08 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001CA03 ,  2G001DA08 ,  2G001FA17 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001KA07 ,  2G001LA05 ,  2G001MA05 ,  2G001NA03 ,  2G001NA08 ,  2G001RA04