特許
J-GLOBAL ID：201503026623123040
排ガス浄化用触媒及びその製造方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
青木 篤
, 石田 敬
, 古賀 哲次
, 関根 宣夫
, 堂垣 泰雄
, 出野 知
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-241931
特許番号：特許第5708767号
出願日： 2013年11月22日
要約：
【課題】ニッケルを触媒成分として含む排ガス浄化用触媒及びその製造方法を提供する。
【解決手段】CeO2とNiOを均一に混合してなるナノ複合材料を含む排ガス浄化用触媒及びその製造方法が提供される。当該均一な混合は(a)ナノ複合材料をSTEM-EDXを用いて分析したときに、CeとNiの両方の元素が検出される無作為に選択した5箇所以上の測定点のうち過半数の測定点においてNi原子数がNiとCeの原子数の合計に対して3〜20原子%の範囲内にあること、及び(b)ナノ複合材料に関するNi-K吸収端のEXAFSスペクトルのフーリエ変換において原子間距離1.8Å付近のNi-Oのピーク強度と原子間距離2.6Å付近のNi-Niのピーク強度との比が1:0.50以上1:2.18未満であることのうち少なくとも一方を満たすものである。
【選択図】図1
請求項（抜粋）：
【請求項1】 セリアと酸化ニッケルを均一に混合してなるナノ複合材料を含み、均一な混合が下記の条件(a)及び(b)のうち少なくとも一方を満たすものである、排ガス浄化用触媒:
(a)前記ナノ複合材料をエネルギー分散型X線分析装置付走査透過型電子顕微鏡(STEM-EDX)を用いて電子線のスポット径が1nm以下の条件下で分析したときに、セリウムとニッケルの両方の元素が検出される無作為に選択した5箇所以上の測定点のうち過半数の測定点において、ニッケルの原子数がニッケルとセリウムの原子数の合計に対して3〜20原子%の範囲内にあること、及び
(b)前記ナノ複合材料に関するNi-K吸収端の広域X線吸収微細構造(EXAFS)スペクトルのフーリエ変換において、原子間距離1.8Å付近のNi-Oに起因するピークの強度と原子間距離2.6Å付近のNi-Niに起因するピークの強度との比が1:0.50以上1:2.18未満であること。
IPC (6件)：
B01J 23/83 ( 200 6.01)
, B01J 37/03 ( 200 6.01)
, B01J 37/04 ( 200 6.01)
, B01J 37/10 ( 200 6.01)
, B01D 53/94 ( 200 6.01)
, F01N 3/10 ( 200 6.01)
B01J 23/83 ZAB A
, B01J 37/03 B
, B01J 37/04 102
, B01J 37/10
, B01D 53/36 104 A
, F01N 3/10 A
