特許
J-GLOBAL ID:201503027368503434
材料試験装置および方法
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
青木 篤
, 島田 哲郎
, 三橋 真二
, 伊藤 公一
, 曽根 太樹
, 篠田 拓也
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-549150
公開番号(公開出願番号):特表2015-503734
出願日: 2012年12月14日
公開日(公表日): 2015年02月02日
要約:
材料試験装置を動作させる方法は、試験を、可変試験周波数で材料試料に変動荷重を印加し、荷重の印加中に試料の温度を測定し、測定された温度に基づいて試験周波数を変更し、それにより、試験中に試料が所定の最大温度を超えることを防止することによって行うことを含む。対応する材料試験装置も提供される。
請求項(抜粋):
材料試験装置の操作方法において、試験を、可変試験周波数で材料試料に変動荷重を印加し、前記荷重の印加中に前記試料の温度を測定し、前記測定された温度に基づいて前記試験周波数を変更し、それにより、前記試験中に前記試料が所定の最大温度を超えることを防止することによって行うことを含む材料試験装置の操作方法。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (6件):
2G061AA02
, 2G061AA17
, 2G061AB05
, 2G061BA15
, 2G061DA01
, 2G061EA01
引用特許:
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