特許

J-GLOBAL ID：201503027665045488

3次元計測装置および3次元計測方法

発明者： 松尾 光平
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (4件)： 田中 光雄 ,  山崎 宏 ,  磯江 悦子 ,  山崎 敏行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-244045
公開番号（公開出願番号）：特開2015-102460
出願日： 2013年11月26日
公開日（公表日）： 2015年06月04日
要約：

【課題】簡単な構成で、奥行きが不連続に変化する境界付近の3次元情報を精度よく計測する。【解決手段】計測対象物(6)を撮像する複数の撮像部(1,2)と、上記複数の撮像部(1,2)によって撮像された複数の画像に基づいて、上記計測対象物(6)の3次元距離を算出する3次元距離計算部(4)と、上記計測対象物(6)上に設定された計測点に隣接する隣接箇所に関する上記3次元距離計算部(4)で算出された3次元距離と、上記計測対象物(6)の設計データとに基づいて、上記計測対象物(6)上の上記計測点の3次元距離を演算する計測点3次元距離演算部(5)とを備えている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

計測対象物を撮像する複数の撮像部と、 上記複数の撮像部によって撮像された複数の画像に基づいて、上記計測対象物の3次元距離を算出する3次元距離計算部と、 上記計測対象物上に設定された計測点に隣接する隣接箇所に関する上記3次元距離計算部で算出された3次元距離と、上記計測対象物の設計データとに基づいて、上記計測対象物上の上記計測点の3次元距離を演算する計測点3次元距離演算部と を備えたことを特徴とする3次元計測装置。

IPC (2件)：

G01B 11/245 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G01B11/245 H ,  G06T1/00 315

Fターム (33件)：

2F065AA25 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC15 ,  2F065DD03 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ39 ,  2F065QQ41 ,  2F065RR05 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CD14 ,  5B057CF05 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC09 ,  5B057DC32