特許
J-GLOBAL ID：201503035525784038
電磁界センサおよび電磁界センシング方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
机 昌彦
, 下坂 直樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-190404
公開番号（公開出願番号）：特開2015-055595
出願日： 2013年09月13日
公開日（公表日）： 2015年03月23日
要約：
【課題】光の偏光状態の変化を利用した電磁界センサにおける測定誤差を低減し、電磁界センサを構成する部品や装置に対する制約を低減する。【解決手段】本発明の電磁界センサは、単一偏光からなる複数の波長の光を出射することができる光源と、単一偏光からなる光の偏光面を外界の変化に感応して回転させて出射する光学素子と、光学素子が出射する偏光面が回転した偏光の2つの直交する偏光成分に対応した少なくとも2つの波長の光を、偏光成分の強度に応じた強度でそれぞれ出射する偏光波長出射器と、偏光波長出射器が出力する少なくとも2つの波長の光の強度を検出する波長別光強度検出装置とを有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
単一偏光からなる複数の波長の光を出射することができる光源と、
前記単一偏光からなる光の偏光面を外界の変化に感応して回転させて出射する光学素子と、
前記光学素子が出射する偏光面が回転した偏光の2つの直交する偏光成分に対応した少なくとも2つの波長の光を、前記偏光成分の強度に応じた強度でそれぞれ出射する偏光波長出射器と、
前記偏光波長出射器が出力する少なくとも2つの波長の光の強度を検出する波長別光強度検出装置と、
を有することを特徴とする電磁界センサ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (5件)：
2G017AA01
, 2G017AB07
, 2G017AD12
, 2G017AD14
, 2G017AD15
