特許

J-GLOBAL ID：201503040023118950

画像取得装置及び画像取得方法

発明者： 坂上 順一 ,  田中 健二 ,  和田 成司 ,  山根 健治
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (4件)： 亀谷 美明 ,  金本 哲男 ,  萩原 康司 ,  松本 一騎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-255066
公開番号（公開出願番号）：特開2015-114420
出願日： 2013年12月10日
公開日（公表日）： 2015年06月22日
要約：

【課題】サンプルの励起波長が変化する状況下においても、コントラストの高い画像を、簡便な方法で得ることが可能な画像取得装置及び画像取得方法を提供する。【解決手段】レーザー光を出射し、当該レーザー光の波長を制御可能に構成された光源2と、レーザー光によりサンプルSを走査し、当該レーザー光を受けてサンプルSからの測定対象光の強度を測定する測定部53と、測定された測定対象光の強度分布に基づき、当該サンプルSの画像を生成する制御部6aと、を備え、制御部6aは、測定された測定対象光の強度分布に基づき、レーザー光の波長を制御する。【選択図】図28

請求項（抜粋）：

レーザー光を出射し、当該レーザー光の波長を制御可能に構成された光源と、 前記レーザー光によりサンプルを走査し、当該レーザー光を受けて前記サンプルからの測定対象光の強度を測定する測定部と、 測定された前記測定対象光の強度分布に基づき、当該サンプルの画像を生成する制御部と、 を備え、 前記制御部は、測定された前記測定対象光の強度分布に基づき、前記レーザー光の波長を制御する、画像取得装置。

IPC (4件)：

G02B 21/06 ,  H01S 3/00 ,  G02F 1/39 ,  G01N 21/64

FI (4件)：

G02B21/06 ,  H01S3/00 F ,  G02F1/39 ,  G01N21/64 E

Fターム (36件)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2H052AA08 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC15 ,  2H052AC28 ,  2H052AC34 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21 ,  2H052AF25 ,  2K102AA06 ,  2K102BA18 ,  2K102BB02 ,  2K102BC02 ,  2K102DA01 ,  2K102DB01 ,  2K102DD06 ,  2K102EA21 ,  2K102EB20 ,  2K102EB22 ,  5F172NR24 ,  5F172ZZ04