特許
J-GLOBAL ID：201503041226982699
高炉装入物の厚み分布計測方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
内藤 俊太
, 田中 久喬
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-019817
公開番号（公開出願番号）：特開2013-160510
特許番号：特許第5655798号
出願日： 2012年02月01日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 高炉の直径方向における高炉装入物最表面のプロフィールを計測するスキャン式プロフィールメータを用いて1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測する方法であって、
高炉装入物の装入作業終了から次回装入作業開始までの間に高炉装入物最表面位置の計測装置を用いて高炉装入物最表面位置の計測を複数回行い、当該計測値を基に高炉装入物最表面位置の降下速度(以下、「降下速度」という。)を算出し、
前記降下速度に基づいて当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達する時刻よりプロフィール計測に要する時間だけ早い時刻(以下、「プロフィール計測開始時刻」という。)を算出し、
前記プロフィール計測開始時刻に前記スキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィールの計測(以下、「第1計測」という。)を開始させ、
次なる高炉装入物の装入作業終了時刻に前記スキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測(以下、「第2計測」という。)を開始させ、
第1計測と第2計測の計測結果より1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測することを特徴とする高炉装入物の厚み分布計測方法。
IPC (3件)：
G01B 21/20 ( 200 6.01)
, C21B 7/24 ( 200 6.01)
, G01B 15/04 ( 200 6.01)
G01B 21/20 C
, C21B 7/24 302
, G01B 15/04 C
