特許

J-GLOBAL ID：201503043270441096

粒子軌跡検出方法及び装置

発明者： 藤原 浩介
出願人/特許権者： 株式会社IHI
代理人 (5件)： 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  高橋 俊一 ,  伊藤 正和 ,  高松 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-240721
公開番号（公開出願番号）：特開2015-102332
出願日： 2013年11月21日
公開日（公表日）： 2015年06月04日
要約：

【課題】容器内を降下する粒子の描く軌跡や粒子の速度分布を検出する方法を提供する。【解決手段】容器10内に収容した所定の粒径を有する複数の粒子100を重力によって次第に降下させて下部開口12から取り出す。容器10内に放射線を透過することにより粒子100の描く軌跡を検出する方法である。容器10に収容した複数の粒子100について、標識とする放射線を遮る粒子を少なくとも1個追加する工程と、容器10の側面に対して異なる方向から放射線を照射する複数のX線源20を設ける工程と、X線源20に容器10を挟んでそれぞれ対向する複数の検出器30を設ける工程と、検出器30にて検出した信号に基づいて標識粒子の軌跡を決定する工程を含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

容器内に所定の粒径を有する複数の粒子を重力によって次第に降下させるとともに、前記容器内に放射線を透過することにより容器内で粒子の描く軌跡を検出する方法であって、 前記容器に収容した複数の粒子について、標識とする放射線を遮る粒子を少なくとも1個追加する工程と、 前記容器の側面に対して異なる方向から放射線を照射する複数の放射線源を設ける工程と、 前記放射線源に前記容器を挟んでそれぞれ対向する複数の検出器を設ける工程と、 前記検出器にて検出した信号に基づいて前記標識とした粒子の軌跡を決定する工程と を含む粒子軌跡検出方法。

IPC (1件)：

G01N 23/04

FI (1件)：

G01N23/04

Fターム (6件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001GA12 ,  2G001HA13 ,  2G001KA20