特許

J-GLOBAL ID：201503047554018067

X線CT装置、計算装置、X線CT装置用記録媒体およびX線CT装置のメンテナンス方法

発明者： 植木 広則 ,  渡辺 史人
出願人/特許権者： 株式会社日立メディコ
代理人 (1件)： 特許業務法人 山王坂特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012067186
公開番号（公開出願番号）：WO2013-008712
出願日： 2012年07月05日
公開日（公表日）： 2013年01月17日
要約：

X線CT装置において、X線のビームハードニング(BH)効果に起因するCT値の定量性劣化を防止する。 予めシミュレーションによって求めたX線吸収特性Sとその目標値Tとを保存しておき、BH補正に必要な基礎データを取得するためのメンテナンス計測で計測した投影データを用いて、シミュレーション値Sを修正し、修正後のX線吸収特性Sと目標値Tを用いてBH補正係数を計算する。少ない実測値でBH精度を向上することができ、CT値の不均一性に起因する誤診断の低減や、CT値の定量性向上に伴う診断能の向上を実現できる。

請求項（抜粋）：

X線発生部と、前記X線発生部に対向して配置され、複数のX線検出素子を有するX線検出部と、前記X線検出部で検出されたデータを補正する補正部と、補正後のデータを用いてCT画像を再構成する画像再構成部とを備えたX線CT装置において、 前記補正部は、所定の被検体のX線吸収特性の目標値と、ビームハードニングの影響下における前記所定の被検体のX線吸収特性との関係を表すBH補正関数に基き、前記検出されたデータを補正するビームハードニング補正部を備え、 前記ビームハードニング補正部は、仮想ファントムについて予めシミュレーションによって求めたX線吸収特性のシミュレーション計算値と前記仮想ファントムと等価なファントムを用いて実測したX線吸収特性の実測値との誤差を用いてX線吸収特性を算出するX線吸収特性算出部と、当該X線吸収特性算出部で算出されたX線吸収特性と予め計算したX線吸収特性の目標値とを用いて前記BH補正関数を算出するBH補正関数算出部とを備え、前記BH補正関数算出部で算出されたBH補正関数に基き、検査対象について計測したデータを補正することを特徴とするX線CT装置。

IPC (1件)：

A61B 6/03

FI (1件)：

A61B6/03 350J

Fターム (9件)：

4C093AA22 ,  4C093CA13 ,  4C093FC14 ,  4C093FC17 ,  4C093FC24 ,  4C093FD05 ,  4C093FD08 ,  4C093GA01 ,  4C093GA05