特許
J-GLOBAL ID：201503048743312940
三次元形状データ取得装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
寺本 光生
, 志賀 正武
, 高橋 久典
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-170412
公開番号（公開出願番号）：特開2015-040711
出願日： 2013年08月20日
公開日（公表日）： 2015年03月02日
要約：
【課題】予め設定された射出パターンの測定光を物体に照射して物体の三次元形状データを取得する三次元形状データ取得装置において、複数の位置から測定光を物体に照射した場合の照射パターンの干渉による測定精度の低下を防止する。【解決手段】予め設定された射出パターンの測定光を射出する発光部2a及び測定光が照射された物体を撮像する撮像部2bを有するセンサユニット2と、センサユニット2の出力に基づいて物体の三次元形状を求める数値計算部3とを備える三次元形状データ取得装置1であって、複数のセンサユニット2を備え、各センサユニット2が、他のセンサユニット2の発光部2aと異なる射出パターンの測定光を射出する発光部2aと、同じセンサユニット2に属する発光部2aから射出された測定光の反射光のみを受光して撮像を行う撮像部2bとを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
予め設定された射出パターンの測定光を射出する発光部及び前記測定光が照射された物体を撮像する撮像部を有するセンサユニットと、前記センサユニットの出力に基づいて前記物体の三次元形状を求める数値計算部とを備える三次元形状データ取得装置であって、
複数の前記センサユニットを備え、
各前記センサユニットは、
同じ前記センサユニットに属する前記発光部から射出された前記測定光の反射光のみを受光して撮像を行う撮像部
を備える
ことを特徴とする三次元形状データ取得装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (15件)：
2F065AA06
, 2F065AA53
, 2F065DD06
, 2F065FF04
, 2F065FF44
, 2F065GG21
, 2F065HH07
, 2F065JJ05
, 2F065JJ19
, 2F065JJ26
, 2F065LL22
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ31
, 2F065RR08
