特許
J-GLOBAL ID:201503049716106944
互いに独立した複数の電子構成部品と中央処理装置との間の接続ラインにおける欠陥を検出する方法および装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (2件):
大場 玲児
, 高橋 始
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-542890
公開番号(公開出願番号):特表2015-500984
出願日: 2012年11月28日
公開日(公表日): 2015年01月08日
要約:
本発明は、複数の電子コネクタユニット(117a-c)と互いに独立した複数の周辺装置(130)との間の接続ライン(120)における少なくとも1つの欠陥(125,126,127)を検出するための方法(200)であって、この場合、前記コネクタユニット(117a-c)がコントロールユニット(115)内に揮発性にプログラミングされたアルゴリズムによって制御され、前記周辺装置(130a-c)と前記コネクタユニット(117)との間の前記接続ライン(120)が、それぞれ少なくも1つの2線式信号ラインによって構成されている方法に関する。この方法(200)は、前記欠陥(125)の検出を開始するために、前記コントロールユニット(115)から、前記コネクタユニット(117a)の第1の周辺装置(130a)にスタート信号をアウトプットするステップ(210)を有している。前記方法(200)はさらに、前記テスト信号を前記第1のコネクタユニット(117a)のインターフェース(140a)に印加するステップ(220)を有し、この際に、前記テスト信号の印加が前記第1のコネクタユニット(117a)内に不揮発性にプログラミングされた第1のアルゴリズム(160a)によって監視され、および/または制御されるようになっている。また前記方法(200)は、前記第2のコネクタユニット(117b)のインターフェース(140b)への前記テスト信号の過結合を検出するステップ(230)を有し、このステップ(230)において前記過結合を表わす欠陥データを第1のレジスタ(170b)内にファイルし、この際に、欠陥データの検出およびファイルが、前記第2のコネクタユニット(117b)内に不揮発性にプログラミングされた第2のアルゴリズム(160b)によって監視され、および/または制御されるようになっている。さらに前記方法(200)は、前記第1のコネクタユニット(117a)と複数の前記周辺装置(130)との間の接続ライン(120)における前記欠陥を検出するために、少なくとも1つの前記欠陥データを前記少なくとも第1のレジスタ(170b)から前記コントロールユニット(110)によって読み取るステップ(240)を有している。 【選択図】図1
請求項(抜粋):
複数の電子コネクタユニット(117a-c)と互いに独立した複数の周辺装置(130)との間の接続ライン(120)における少なくとも1つの欠陥(125,126,127)を検出するための方法(200)であって、前記コネクタユニット(117a-c)がコントロールユニット(115)内に揮発性にプログラミングされたアルゴリズムによって制御され、前記周辺装置(130a-c)と前記コネクタユニット(117)との間の前記接続ライン(120)が、それぞれ少なくとも1つの2線式信号ラインによって構成されており、前記方法(200)が、
前記欠陥(125)の検出を開始するために、前記コントロールユニット(115)から、前記コネクタユニット(117a)の第1の周辺装置(130a)にスタート信号をアウトプットするステップ(210)を有し、
前記テスト信号を前記第1のコネクタユニット(117a)のインターフェース(140a)に印加するステップ(220)を有し、この際に、前記テスト信号の印加を前記第1のコネクタユニット(117a)内に不揮発性にプログラミングされた第1のアルゴリズム(160a)によって監視し、および/または制御し、
前記第2のコネクタユニット(117b)のインターフェース(140b)への前記テスト信号の過結合を検出するステップ(230)を有し、該ステップ(230)において前記過結合を表わす欠陥データを第1のレジスタ(170b)内にファイルし、この際に、欠陥データの検出およびファイルを、前記第2のコネクタユニット(117b)内に不揮発性にプログラミングされた第2のアルゴリズム(160b)によって監視し、および/または制御し、
前記第1のコネクタユニット(117a)と複数の前記周辺装置(130)との間の接続ライン(120)における前記欠陥を検出するために、少なくとも1つの前記欠陥データを前記少なくとも第1のレジスタ(170b)から前記コントロールユニット(110)によって読み取るステップ(240)を有している、
少なくとも1つの欠陥を検出するための方法(200)。
IPC (2件):
FI (2件):
G01R31/02
, G05B23/02 302R
Fターム (15件):
2G014AA03
, 2G014AB34
, 2G014AB60
, 2G014AC07
, 3C223AA16
, 3C223BA03
, 3C223CC03
, 3C223CC06
, 3C223DD03
, 3C223DD06
, 3C223EA07
, 3C223EB03
, 3C223GG01
, 3C223GG03
, 3C223HH29
引用特許:
引用文献:
出願人引用 (1件)
-
PSI5 Technical Specification
審査官引用 (1件)
-
PSI5 Technical Specification
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