特許
J-GLOBAL ID:201503053752934931

構造物の非破壊検査装置及び検査システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 小川 護晃 ,  西山 春之 ,  奥山 尚一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-182357
公開番号(公開出願番号):特開2015-049194
出願日: 2013年09月03日
公開日(公表日): 2015年03月16日
要約:
【課題】自走機構部で検査対象の構造物に沿って移動しながら前記構造物に加熱用の赤外線を照射すると共にその赤外線照射により構造物の温度が変化するのを測定して、前記構造物の広い範囲に亘って内部欠陥を自動的に検査する。【解決手段】検査対象の構造物3に加熱用の赤外線を照射する赤外線照射部、前記赤外線照射部の赤外線照射により構造物の温度が変化するのを測定する温度変化測定部、前記赤外線照射部及び温度変化測定部の駆動制御及びデータ集積を行う駆動制御・集積部を搭載する検査装置本体1と、前記検査装置本体1を前記構造物3に沿って移動可能とする自走機構部2とを含み、前記自走機構部2で検査対象の構造物3に沿って移動しながら前記構造物3に加熱用の赤外線を照射すると共にその赤外線照射により構造物3の温度が変化するのを測定して前記構造物3の内部欠陥を検査するものである。【選択図】図1
請求項(抜粋):
検査対象の構造物に加熱用の赤外線を照射する赤外線照射部と、 前記赤外線照射部の赤外線照射により構造物の温度が変化するのを測定する温度変化測定部と、 前記赤外線照射部及び温度変化測定部の駆動制御及びデータ集積を行う駆動制御・集積部と、 前記赤外線照射部、温度変化測定部及び駆動制御・集積部を搭載する筐体を前記構造物に沿って移動可能とする自走機構部と、を含み、 前記自走機構部で検査対象の構造物に沿って移動しながら前記構造物に加熱用の赤外線を照射すると共にその赤外線照射により構造物の温度が変化するのを測定して前記構造物の内部欠陥を検査することを特徴とする構造物の非破壊検査装置。
IPC (1件):
G01N 25/72
FI (1件):
G01N25/72 K
Fターム (9件):
2G040AA07 ,  2G040AB08 ,  2G040BA27 ,  2G040CA12 ,  2G040CA23 ,  2G040DA06 ,  2G040DA15 ,  2G040DA25 ,  2G040EA06

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