特許
J-GLOBAL ID：201503055442287165
二重化光線路の光路遅延測定方法とその測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
蔵田 昌俊
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 井上 正
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-252372
公開番号（公開出願番号）：特開2015-109605
出願日： 2013年12月05日
公開日（公表日）： 2015年06月11日
要約：
【課題】伝送装置間の通信負荷が少ない場合であっても、現用光線路と迂回光線路の二重化光線路間の遅延差を測定し得る二重化光線路の光路遅延測定方法とその測定装置を提供する。【解決手段】ONUから送られる光信号(ランダム性を有する)を試験光として利用することで、信号処理及び結果表示部でランダムパルス信号のパルス列の類似性(相関)の一致から遅延差を計測する。信号処理及び結果表示部は、現用及び迂回光線路の信号パターン21から、データ信号の位置を検出し、現用光線路信号パターンを複数のクラスに分け、各クラス内の平均の二乗の値22を計算する。そして、各クラス内の平均の二乗の値22から相互相関関数を計算し、計算値が最大となる遅延時間を測定する。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
伝送装置間を結ぶ光ファイバによる現用光線路に対して光ファイバによる迂回光線路の両端部を第1及び第2の光カプラにより結合して構成される二重化光線路の光路遅延を計測する光路遅延測定方法であって、
加入者側伝送装置から発せられる第1の波長の上り信号光を前記第1の光カプラにて二分岐し、
前記分岐された上り信号光を、前記迂回光線路を伝搬させ、試験光として第1の波長から第2の波長へ波長変換し、
前記第2の波長に変換された試験光を、もう一方に分岐され前記現用光線路を伝搬した第1の波長の上り信号光と前記第2の光カプラで合波し、
前記合波された上り信号光と試験光を、波長分割光カプラで第1の波長と第2の波長の光信号に分波し、
前記分波された第1の波長及び第2の波長の各信号の光電流を検出し、
前記検出された上り信号光及び試験光に含まれるランダムパターン位置を検出し、
前記ランダムパターン位置を含む信号を上り信号光及び試験光から抽出し、
前記抽出された2つの信号群の相互相関を解析することで二重化光線路の光路遅延を測定することを特徴とする二重化光線路の光路遅延測定方法。
IPC (3件)：
H04B 10/077
, H04B 10/032
, G01M 11/00
H04B9/00 177
, H04B9/00 132
, G01M11/00 Q
2G086BB04
, 5K102AD01
, 5K102AL08
, 5K102LA18
, 5K102LA44
