特許

J-GLOBAL ID：201503061317488221

X線断層撮影装置およびX線断層撮影方法

発明者： 近藤 剛史
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-263596
公開番号（公開出願番号）：特開2015-118074
出願日： 2013年12月20日
公開日（公表日）： 2015年06月25日
要約：

【課題】従来のものよりも断層像に現れるアーチファクトを低減することが可能なX線断層撮影装置を提供する。【解決手段】被検体を透過したX線より周期パターンを形成する回折格子と、X線を検出する検出器の検出結果に基づいて、被検体の情報を演算する演算手段と、被検体に複数の角度からX線を照射するように被検体を回転させ、被検体を検出器の視野から外れるように移動させる回転、移動機構と、を備え、回転、移動機構を作動させて、複数の被検体投影像を取得する過程で、被検体を撮影した後に、被検体を検出器の視野から外れるように移動させ、被検体のない状態で参照投影像を取得し、再び被検体のある状態の被検体投影像を取得し、演算手段により、被検体投影像からX線源の照射ムラや検出器の感度ムラの影響を補正する背景補正のための背景像を、複数の参照投影像より算出し、複数の被検体投影像と背景像から、背景補正された被検体断層像を算出する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

X線源と、 前記X線源より射出され、被検体を透過したX線より周期パターンを形成する回折格子と、 前記回折格子を透過したX線を検出する検出器と、 前記検出器で検出された検出結果に基づいて、前記被検体の情報を演算する演算手段と、 前記被検体に複数の角度からX線を照射するように該被検体を回転させると共に、 前記被検体を前記検出器の視野から外れるように移動させることが可能に構成された回転、移動機構と、 を備え、 前記回転、移動機構を作動させて、前記被検体に複数の角度からX線を照射して複数の被検体投影像を取得する過程において、 前記被検体を撮影した後に、前記被検体を前記検出器の視野から外れるように移動させ、該被検体のない状態で参照投影像を取得し、再び前記被検体を前記検出器の視野に入るように移動させ該被検体のある状態の被検体投影像を取得し、 前記演算手段によって、前記被検体投影像からX線源の照射ムラや検出器の感度ムラの影響を補正する背景補正のための背景像を、前記複数の参照投影像より算出し、 前記複数の被検体投影像と前記背景像から、前記背景補正された被検体断層像を算出することを特徴とするX線断層撮影装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  A61B 6/03

FI (4件)：

G01N23/04 ,  A61B6/03 323G ,  A61B6/03 320M ,  A61B6/03 350F

Fターム (19件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA14 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001EA01 ,  2G001FA08 ,  2G001GA01 ,  2G001HA14 ,  2G001JA08 ,  4C093AA22 ,  4C093CA12 ,  4C093EA11 ,  4C093EB24 ,  4C093EC22 ,  4C093ED07 ,  4C093FC18 ,  4C093FC23