特許
J-GLOBAL ID：201503061979507420
回路基板検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-218149
公開番号（公開出願番号）：特開2015-081777
出願日： 2013年10月21日
公開日（公表日）： 2015年04月27日
要約：
【課題】回路基板に実装されている電子部品と導体パターンとの接続状態の良否検査の検査効率を向上させる。【解決手段】回路基板の導体パターンに検出信号Ssを供給しているときに発生する磁界の磁界強度を検出する磁界検出部4と、電子部品上の規定位置に磁界検出部4が対向している状態で検出された磁界強度に基づいて電子部品と導体パターンとの接続状態の良否検査を実行すると共に、移動機構5による磁界検出部4の移動を制御して磁界検出部4によって検出された磁界強度に基づいて規定位置を予め規定する規定処理を実行する処理部7とを備え、処理部7は、規定処理において、電子部品の表面を複数に分割した各分割区画に対向する各対向位置に磁界検出部4を順次移動させて対向位置毎の磁界強度を特定する磁界強度特定処理を実行し、特定した磁界強度が予め規定された規定条件を満たすと判定した分割区画を規定位置として規定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電子部品が実装された回路基板における導体パターン上の検査ポイントに検査用信号を供給しているときに発生する磁界の磁界強度を検出する磁界検出部と、前記電子部品上の予め規定された規定位置に前記磁界検出部が対向している状態で当該磁界検出部によって検出された前記磁界強度に基づいて前記電子部品と前記導体パターンとの接続状態の良否検査を実行する検査部とを備えた回路基板検査装置であって、
前記磁界検出部を移動させる移動機構と、
前記移動機構による前記磁界検出部の移動を制御すると共に、前記磁界検出部によって検出された前記磁界強度に基づいて前記良否検査において用いる前記規定位置を予め規定する規定処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記規定処理において、前記電子部品の表面を複数に分割した各分割区画に対向する各対向位置に前記磁界検出部を順次移動させて当該対向位置毎の前記磁界強度を特定する磁界強度特定処理を実行し、当該特定した磁界強度が予め規定された規定条件を満たすと判定した前記分割区画を前記規定位置として規定する回路基板検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
2G132AA20
, 2G132AC01
, 2G132AD15
, 2G132AF16
, 2G132AG01
, 2G132AL09
