特許

J-GLOBAL ID：201503062181752503

粒度分布測定方法

発明者： 小田 高士 ,  瀧 大輔 ,  深田 伸男
出願人/特許権者： 東邦チタニウム株式会社
代理人 (1件)： アクシス国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-206722
公開番号（公開出願番号）：特開2015-072135
出願日： 2013年10月01日
公開日（公表日）： 2015年04月16日
要約：

【課題】合成粒度分布を得るための方法を提供すること。【解決手段】合成粒度分布を作成するための方法であって以下のステップを含む方法:(A)所定の粒子サイズ範囲(SL〜SMAX)にわたって第一の粒度分布を測定するステップ;(B)所定の粒子サイズ範囲(SMIN〜S1)にわたって第二の粒度分布を測定するステップ;(ここで、上記(A)と(B)の順番は入替可能であり、SMIN<SL<S1<SMAXである);(C)第一の粒度分布において、粒子サイズ範囲SL〜S1での頻度値の合計F1を算出し、並びに第二の粒度分布において粒子サイズ範囲SL〜S1での頻度値の合計F2を算出するステップ;並びに(F)前記F1と、前記F2と、第一の粒度分布と、及び第二の粒度分布とを用いてSMIN〜SMAXの範囲の合成粒度分布関数を作成するステップ。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

合成粒度分布を作成するための方法であって以下のステップを含む方法: (A)所定の粒子サイズ範囲(SL〜SMAX)にわたって第一の粒度分布を測定するステップ; (B)所定の粒子サイズ範囲(SMIN〜S1)にわたって第二の粒度分布を測定するステップ; (ここで、上記(A)と(B)の順番は入替可能であり、SMIN<SL<S1<SMAXである); (C)第一の粒度分布において、粒子サイズ範囲SL〜S1での頻度値の合計F1を算出し、並びに第二の粒度分布において粒子サイズ範囲SL〜S1での頻度値の合計F2を算出するステップ;並びに (F)前記F1と、前記F2と、第一の粒度分布と、及び第二の粒度分布とを用いてSMIN〜SMAXの範囲の合成粒度分布関数を作成するステップ。

IPC (2件)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/14

FI (3件)：

G01N15/02 Z ,  G01N15/02 C ,  G01N15/14 K