特許
J-GLOBAL ID：201503070342011706
直交加速同軸円筒飛行時間型質量分析器
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
池田 成人
, 酒巻 順一郎
, 野田 雅一
, 山口 和弘
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-512130
公開番号（公開出願番号）：特表2015-517722
出願日： 2013年05月16日
公開日（公表日）： 2015年06月22日
要約：
長手方向軸線を有し、第1の環状イオンガイド部および第2の環状イオンガイド部を含む環状イオンガイドを含む飛行時間型質量分析器が開示される。イオンは、第1の環状イオンガイド部に入射し、第1の環状イオンガイド部内で、長手方向軸線の回りに実質的に安定な円軌道を形成する。イオン検出器は、環状イオンガイド内に配置される。イオンは、第1の環状イオンガイド部から第2の環状イオンガイド部へ第1の軸方向に直交加速される。第2の環状イオンガイド部の少なくとも一部に沿って軸方向DC電位を維持し、それにより、イオンが第1の軸方向とは実質的に逆の第2の軸方向へ反射される。イオンは、イオン検出器に検出される前に、第2の環状イオンガイド部を複数回軸方向に通過する。【選択図】図8C
請求項（抜粋）：
長手方向軸線を有し、第1の環状イオンガイド部および第2の環状イオンガイド部を含む環状イオンガイド、
イオンが前記第1の環状イオンガイド部に導入され、前記イオンが前記第1の環状イオンガイド部内で前記長手方向軸線の周りに実質的に安定な円軌道を形成するように配置され、適合された第1の装置、
前記環状イオンガイド内に配置されたイオン検出器、
前記第1の環状イオンガイド部から前記第2の環状イオンガイド部へ第1の軸方向にイオンを直交加速するように配置され、適合された第2の装置、および、
前記第2の環状イオンガイド部の少なくとも一部に沿って軸方向DC電位を維持し、それにより、前記イオンが前記第1の軸方向とは実質的に逆の第2の軸方向に反射され、さらに、前記イオン検出器により検出される前に、前記イオンが前記第2の環状イオンガイド部を複数回軸方向に通過するように配置され、適合された第3の装置、
を含む飛行時間型質量分析器。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
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