特許
J-GLOBAL ID：201503073397032965
エックス線検出具及びエックス線検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
石田 喜樹
, 園田 清隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-219556
公開番号（公開出願番号）：特開2015-111110
出願日： 2014年10月28日
公開日（公表日）： 2015年06月18日
要約：
【課題】エックス線を低コストで簡単に検出可能な検出具や検出方法を提供する。【解決手段】エックス線検出具は、ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート(PEDC)を基材として形成されている。又、エックス線検出具は、PEDCを主成分とする材料に対し、UV吸収剤を、600ppm以上4000ppm以下で分散させたり、蛍光色素、シリカナノ粒子、蛍光色素内包シリカナノ粒子、又はシリカナノカプセルの少なくとも何れかを分散させたり、パルミチン酸イソプロピル(IPP)を分散させたりして形成される。PEDCは、アリルジグリコールカーボネート(ADC)とすることができる。更に、エックス線検出方法として、上記のエックス線検出具からエックス線照射痕を認識することでエックス線を検出する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
ポリジエチレングリコールビスアリルカーボネート(PEDC)を基材として形成されている
ことを特徴とするエックス線検出具。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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