特許
J-GLOBAL ID：201503077141738122
複合材料検査装置と方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (2件)：
堀田 実
, 野村 俊博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-184139
公開番号（公開出願番号）：特開2015-052467
出願日： 2013年09月05日
公開日（公表日）： 2015年03月19日
要約：
【課題】積層構造を有する導電性の複合材料内に発生し表面に平行な層間はく離部を確実に検出することができる複合材料検査装置と方法を提供する。【解決手段】均等に加熱された導電性の複合材料7に対し、その表面に近接して位置する渦電流センサ12と、渦電流センサ12の検出出力から層間はく離部8を検出する検出装置20とを備える。渦電流センサ12は、複合材料7の表面に平行な渦電流5を発生させる励磁コイル13と、渦電流5により発生する磁界に応じて検出出力が変化する検出コイル14とを有する。検出装置20は、複合材料7の表面の温度変化又は導電率変化に起因する検出コイル14の検出出力の相違から層間はく離部8を検出する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
積層構造を有する導電性の複合材料の層間はく離部を検出する複合材料検査装置であって、
均等に加熱された前記複合材料に対し、その表面に近接して位置する渦電流センサと、
前記渦電流センサの検出出力から層間はく離部を検出する検出装置と、を備え、
前記渦電流センサは、複合材料の表面に平行な渦電流を発生させる励磁コイルと、渦電流により発生する磁界に応じて前記検出出力が変化する検出コイルとを有し、
前記検出装置は、複合材料の表面の温度変化又は導電率変化に起因する前記検出コイルの検出出力の相違から層間はく離部を検出する、ことを特徴とする複合材料検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2G053AA11
, 2G053AB21
, 2G053BA16
, 2G053BB16
, 2G053BC14
, 2G053CA03
, 2G053CA17
, 2G053DA01
, 2G053DB02
, 2G053DB19
