特許

J-GLOBAL ID：201503077860050973

撮像装置、その制御方法及びプログラム

発明者： 古用 博之
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-217449
公開番号（公開出願番号）：特開2015-080152
出願日： 2013年10月18日
公開日（公表日）： 2015年04月23日
要約：

【課題】画像取得条件を異ならせて連続撮影した複数の画像を合成するときに、消費電力を抑えながら工程キズ及びリアルタイムキズを補正できるようにする。【解決手段】露光量の異なる複数枚の撮影画像を1枚の画像に合成するHDR処理を行うときに、これら複数枚の画像に対して、予め登録されている欠陥画素を補正する工程キズ補正を実施する。そして、工程キズ補正を実施した複数の画像を合成した後、合成画像に対して、前記予め登録されている欠陥画素以外の欠陥画素を検出し、該検出した欠陥画素を補正するリアルタイムキズ補正を実施する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

複数の画素を備える撮像素子で取得される、画像取得条件を異ならせて連続撮影した複数の画像を合成する合成手段と、 予め登録されている欠陥画素を補正する工程キズ補正手段と、 対象画素と周辺の画素の値を比較することで欠陥画素を検出し、該検出した欠陥画素を補正するリアルタイムキズ補正手段とを備え、 前記工程キズ補正手段による補正は、前記合成手段による合成前の前記画像に実施し、前記リアルタイムキズ補正手段による欠陥画素の検出及び補正は、前記合成手段による合成画像に実施することを特徴とする撮像装置。

IPC (4件)：

H04N 5/232 ,  H04N 5/367 ,  H04N 5/235 ,  H04N 5/355

FI (4件)：

H04N5/232 Z ,  H04N5/335 670 ,  H04N5/235 ,  H04N5/335 550

Fターム (19件)：

5C024CX22 ,  5C024CX23 ,  5C024CX47 ,  5C024EX31 ,  5C024GZ01 ,  5C024HX29 ,  5C024HX55 ,  5C122EA14 ,  5C122EA21 ,  5C122FA07 ,  5C122FA09 ,  5C122FF10 ,  5C122FF11 ,  5C122FF23 ,  5C122FH11 ,  5C122FK08 ,  5C122GG16 ,  5C122HA87 ,  5C122HB01