特許
J-GLOBAL ID：201503086930782399

回路検証装置、回路検証方法および回路検証プログラム

発明者：
内堀 修作

内堀 修作 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-125611
公開番号（公開出願番号）：特開2015-001808
出願日： 2013年06月14日
公開日（公表日）： 2015年01月05日
要約：
【課題】論理回路の実機テストにおいても、テストの網羅性を客観的に示す指標値を得ることを可能とする回路検証装置等を提供する。【解決手段】回路検証装置1は、ハードウェア記述言語によって記述された測定対象論理回路のコードカバレッジを算出する回路検証装置であって、測定対象論理回路2内部に設けられた複数の観測点の各々から抽出された測定対象信号3a、3b、...に対応するコードが実行されたか否かを測定するカバレッジ観測手段4a、4b、...と、各カバレッジ観測手段による測定結果を集約して、測定対象論理回路を記述するコード全体のうちテストされたものの割合を定量的に測定してこれを出力するカバレッジ収集手段5とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ハードウェア記述言語によって記述された測定対象論理回路のコードカバレッジを算出する回路検証装置であって、 前記測定対象論理回路内部に設けられた複数の観測点の各々から抽出された測定対象信号に対応するコードが実行されたか否かを測定するカバレッジ観測手段と、 前記各カバレッジ観測手段による測定結果を集約して、前記測定対象論理回路を記述するコード全体のうちテストされたものの割合を定量的に測定してこれを出力するカバレッジ収集手段と を備えたこと、を特徴とする回路検証装置。
IPC (3件)：
G06F 17/50 ,  G01R 31/28 ,  H01L 21/82
FI (4件)：
G06F17/50 672F ,  G01R31/28 H ,  H01L21/82 T ,  H01L21/82 C
Fターム (13件)：
2G132AA01 ,  2G132AC09 ,  2G132AL11 ,  5B046AA08 ,  5B046BA02 ,  5B046JA01 ,  5B046JA05 ,  5F064BB01 ,  5F064BB19 ,  5F064BB31 ,  5F064HH06 ,  5F064HH08 ,  5F064HH10
引用特許：
審査官引用 (1件)

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