特許
J-GLOBAL ID:201503090674058391

絶縁寿命推定方法および絶縁寿命推定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 福岡 昌浩 ,  清野 仁
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-126478
公開番号(公開出願番号):特開2015-001461
出願日: 2013年06月17日
公開日(公表日): 2015年01月05日
要約:
【課題】部分放電が発生する供試試料について、印加電圧波形条件の影響を考慮して絶縁寿命を推定し得るようにすることで、絶縁寿命推定の信頼性向上や効率化等を図る。【解決手段】導体と絶縁体とを備えて構成された試料における絶縁寿命を推定する絶縁寿命推定方法を、試料での部分放電による放電電荷量と試料の絶縁破壊との相関情報を得る情報取得ステップ(S2)と、前記絶縁寿命の推定を行う段階で前記試料に部分放電を発生させて当該部分放電による放電電荷量を検出する電荷量検出ステップ(S3)と、情報取得ステップ(S2)で得た相関情報を基に、電荷量検出ステップ(S3)で検出した放電電荷量から試料が絶縁破壊に至るまでの期間を求め、絶縁寿命の推定結果とする寿命推定ステップ(S4)と、を備えて構成する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
導体と絶縁体とを備えて構成された試料における絶縁寿命を推定する絶縁寿命推定方法であって、 前記試料での部分放電による放電電荷量と当該試料の絶縁破壊との相関情報を得る情報取得ステップと、 前記絶縁寿命の推定を行う段階で前記試料に部分放電を発生させて当該部分放電による放電電荷量を検出する電荷量検出ステップと、 前記情報取得ステップで得た相関情報を基に、前記電荷量検出ステップで検出した放電電荷量から前記試料が絶縁破壊に至るまでの期間を求め、前記絶縁寿命の推定結果とする寿命推定ステップと、 を備えることを特徴とする絶縁寿命推定方法。
IPC (1件):
G01R 31/12
FI (2件):
G01R31/12 A ,  G01R31/12 B
Fターム (4件):
2G015AA01 ,  2G015AA27 ,  2G015CA01 ,  2G015CA20
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (1件)
  • 部分放電測定方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-112683   出願人:古河電気工業株式会社

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