特許
J-GLOBAL ID:201503095141331438
X線画像処理装置、X線診断装置およびX線画像処理プログラム
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (13件):
蔵田 昌俊
, 福原 淑弘
, 中村 誠
, 野河 信久
, 峰 隆司
, 河野 直樹
, 砂川 克
, 井関 守三
, 赤穂 隆雄
, 井上 正
, 佐藤 立志
, 岡田 貴志
, 堀内 美保子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-181702
公開番号(公開出願番号):特開2015-047371
出願日: 2013年09月02日
公開日(公表日): 2015年03月16日
要約:
【課題】マッピング法を実行するマッピングシステムが発生する電磁場によって生じたX線画像上のノイズを低減すること。【解決手段】特定部21は、電磁場の作用を受けたX線検出器7からの出力信号に基づく第1のX線画像に画像処理を施して、第1のX線画像に含まれるX線検出器7への電磁場の作用に起因するノイズ成分に特徴的なノイズ特性を特定する。決定部23は、特定されたノイズ特性に基づいて、第1のX線画像に含まれるX線検出器7への電磁場の作用に起因するノイズ成分を低減するためのフィルタ特性を決定する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
電磁場の作用を受けたX線検出器からの出力信号に基づく第1のX線画像に画像処理を施して、前記第1のX線画像に含まれる前記X線検出器への電磁場の作用に起因するノイズ成分に特徴的なノイズ特性を特定する特定部と、
前記特定されたノイズ特性に基づいて、前記第1のX線画像に含まれる前記X線検出器への電磁場の作用に起因するノイズ成分を低減するためのフィルタ特性を決定する決定部と、
を具備するX線画像処理装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (11件):
4C093AA25
, 4C093CA06
, 4C093CA13
, 4C093EC16
, 4C093FD03
, 4C093FD05
, 4C093FD09
, 4C093FD11
, 4C093FF03
, 4C093FF09
, 4C093FG05
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