特許

J-GLOBAL ID：201503098922862993

2軸制御による三次元加工及び測定法

発明者： 宗平 聖士郎
出願人/特許権者： 宗平 聖士郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-188735
公開番号（公開出願番号）：特開2015-054447
出願日： 2013年09月11日
公開日（公表日）： 2015年03月23日
要約：

【課題】三次元データを入出力する造型機及び測定器の機構を単純化し、装置の低コスト高精度化を図る。【解決手段】三次元データを直交座標系から、円筒座標の回転角と回転角に比例する高さ及び半径の二値で三次元座標とした螺旋座標。または円筒座標の回転角と回転角に比例する半径及び高さの二値で三次元座標とした渦巻座標にすることで、二次元値で三次元形状を表すことが可能になり、扱うデータ量の減縮を図ると供に入出力装置の制御軸を2軸としても三次元の造形及び測定を可能として、駆動機構の簡素化により高精度及び低コスト化を実現した。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

立体空間の位置情報を表す手段として、円筒座標として表される三次元位置データを多回転回転角で表し、多回転角に定数(P)を比例させ、角度以外の二次元値の一次元を多回転角の比例値とすることにより、各三次元点座標を2値により三次元座標を表し処理する2軸制御による三次元加工及び測定法。

IPC (1件)：

B29C 67/00

FI (1件)：

B29C67/00

Fターム (5件)：

4F213WA25 ,  4F213WB01 ,  4F213WL02 ,  4F213WL67 ,  4F213WL96