文献

J-GLOBAL ID：201602000123799450   整理番号：70A0256970

薄膜トランスデューサの特性の測定

К вопросу об измерении характеристик пленочных преобразователей.

著者 (2件)： ВИЗЕН Ф Л ,  МАСЛЕННИКОВ В Н
資料名： Radiotekh Ehlektron  (Radiotekhnika i Ehlektronika)
巻： 15  号： 4  ページ： 874-875  発行年： 1970年 
JST資料番号： R0090A  ISSN： 0033-8494  CODEN： RAELA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN)  言語： ロシア語 (RU)

抄録/ポイント： 電気機械的薄膜トランスデューサの変換特性を測定する方法を述べた。本文の測定法は,400~800MHzで測定でき,トランスデューサと高周波路の間の整合に無関係に変換特性を測定することができる;写図2参7

準シソーラス用語： 薄膜トランスデューサ ,  薄膜トランスデューサ(変換特性測定) ,  変換特性測定

タイトルに関連する用語 (2件)： 薄膜 ,  トランスデューサ