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J-GLOBAL ID：201602000343371842   整理番号：65A0133042

偏光による樹脂の徴細構造の解析

Analysis of submicroscopic structures in resins by polarised light.

著者 (1件)： NAHMMACHER M
資料名： ASTM Spec Tech Publ (Am S  (ASTM Special Technical Publication (American Society for Testing and Materials))
号： 348  ページ： 36-46  発行年： 1964年 
JST資料番号： H0511A  CODEN： ASTTA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 予稿  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

抄録/ポイント： 偏光顕微鏡的観察により,樹脂の微細構造に関して得られる知見を総説.試料が複屈折性か否か,屈折率だ円体の主軸の方向の選定,、軸性かニ軸性か,複屈折の正負,複屈折の値,二軸性試料の軸角について,その物理的意義および測定法を説明;図11参3

タイトルに関連する用語 (3件)： 偏光 ,  徴 ,  解析