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J-GLOBAL ID：201602000800434022   整理番号：58A0070823

けい光X線吸収による被覆膜の厚さの測定法(鉄の薄膜を被覆膜の,銀とジルコニウムを基体金属のモデルとして実験した)

A New Approach to the Measurement of Coating Thickness by Fluorescent X-Ray Absorption.

著者 (2件)： ACHEY F A ,  SERFASS E J
資料名： J Electrochem Soc  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 105  号： 4  ページ： 204-205  発行年： 1958年 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 0013-4651  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

タイトルに関連する用語 (10件)： けい光X線 ,  被覆膜 ,  厚さ ,  測定法 ,  鉄 ,  薄膜 ,  銀 ,  ジルコニウム ,  モデル ,  実験