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J-GLOBAL ID：201602000820960405   整理番号：71A0122402

金属の付着に関係したプラスチック表面の走査型電子顕微鏡による研究

Scanning electron microscopy of plastic surfaces as related to metal deposition.

著者 (2件)： BEACOM S E ,  WEDEL R G
資料名： J Colloid Interface Sci  (Journal of Colloid Science)
巻： 34  号： 3  ページ： 375-386  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0279A  ISSN： 0021-9797  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 非伝導性の下地に金属を付着させる際に問題となる下地表面の性質と金属の腐食によるふくれの原因を調べる基礎としてNi,Cr,Auなどを付着させる前後のポリプロピレン,ABS,ナイロン表面を走査型電子顕微鏡を用いて観察し,金属とプラスチックの結合状態を検討した。その結果,腐食による付着性の低下は主として下地の前処理の悪さに起因することがわかった;写図15参17

シソーラス用語： プラスチック ,  金属 ,  付着 ,  腐食
準シソーラス用語： プラスチック(固体表面) ,  金属(付着) ,  固体表面 ,  固体表面(プラスチック) ,  電子顕微競 ,  電子顕微競(プラスチック) ,  電着金属 ,  付着(金属) ,  腐食(電着金属)

タイトルに関連する用語 (3件)： プラスチック ,  走査型電子顕微鏡 ,  研究