抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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x=0~0.20の組成の標記物質の粉末X線回折計測定を低温で行い正方晶一立方晶の転移について調べた。正方晶ひずみは0<x<0.15の間でSbの量によらないが,純粋なNb,Snではc/a<1であるのに対し,少量のSbをドープするとc/a>1になる。これらの結果をβ-タングステン超伝導体Nb,Snにおける格子転移に対する状態密度のモデルを使って検討した;写図3参13