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J-GLOBAL ID：201602001113513563   整理番号：71A0226767

硫化銀膜で汚染されたコンタクトの電気的特性

Electrical characteristics of contacts contaminated with silver sulfide film.

著者 (1件)： RUSS G J
資料名： IEEE Trans Parts Mater Pa  (IEEE Transactions on Parts, Materials and Packaging)
巻： 6  号： 4  ページ： 129-137  発行年： 1970年 
JST資料番号： C0220B  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 各種硫化コンタクトの電気的性能にかんする最近の研究について報告した。これらのコンタクトが電圧の極性に依存するコンタクト抵抗の増大,コンタクト電圧と電流との間の非オーム性関係,さらに抵抗の経時変化によって特徴づけられることを示した。これらの結果を説明するために一つの理論を提案した。この理論は,硫化銀膜の半導体性・硫化銀膜における銀イオンの高い移動度,トンネル効果,膜を通して成立した伝導チャネルの電気的力による広がり,さらに硫化銀の結晶構造に基づいている;写図8表1参13

準シソーラス用語： コンタクト ,  コンタクト(電子デバイス) ,  電子デバイス ,  硫化銀膜

タイトルに関連する用語 (4件)： 硫化銀 ,  汚染 ,  コンタクト ,  電気的特性