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J-GLOBAL ID：201602001282744663   整理番号：61A0008844

顕微鏡МБИ-9の雑音測定

Измерение шумов микроскопа МБИ-9.

著者 (2件)： КОЛГАНОВА Э Д ,  РАБИН Н В
資料名： Prib Tekh Ehksp  (Pribory i Tekhnika Ehksperimenta)
巻： 1960  号： 5  ページ： 134  発行年： 1960年 
JST資料番号： R0082A  ISSN： 0032-8162  CODEN： PRTEF   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN) 

抄録/ポイント： 顕微鏡МБИ-9を写真乾板における荷電粒子の多重クーロン散乱の測定に適用する可能性について調査,検鏡台の雑音と全測定雑音とを測定,前者の測定においては台の垂直および水平移動の際の雑音をマイケルソン干渉計で決定し,全雑音の測定は400MeVエネルギーの陽子飛跡によっておこなった,顕鏡台の垂直移動の際の雑音はセルの大きさ10μのときε₂0.03μ,ε₃0.05μ,全雑音の平均値はε₂=0.16μ,ε₃=0.28μ,粒子飛跡の乾板面に対する傾斜角が10°以下である場合に本顕微鏡を多重クーロン散乱の測定に適用可能;図1表1参2

タイトルに関連する用語 (2件)： 顕微鏡 ,  雑音測定