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J-GLOBAL ID：201602001374236079   整理番号：60A0077867

Ge,Stの双晶および第III-V族金属間化合物研究のためのエツチングと破面製作技術の比較

A comparison of etching and fracturing techniques for studying twin structures in Ge,Si,and III-V intermetallic compounds.

著者 (2件)： FAUST J W Jr ,  JOHN H F
資料名： J Electrochem Soc  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 107  号： 6  ページ： 562-564  発行年： 1960年 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 0013-4651  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA) 

タイトルに関連する用語 (7件)： Ge ,  ST ,  双晶 ,  金属間化合物 ,  研究 ,  破面 ,  製作