文献

J-GLOBAL ID：201602001498763026   整理番号：71A0274127

X線マイクロアナライザーの精度におよぼすいろいろな実験的因子の影響

Der Einfluss verschiedener Messparameter auf die Genauigkeit der Ergebnisse bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse.

著者 (1件)： REXER J
資料名： Prakt Metallogr  (Praktische Metallographie)
巻： 7  号： 11  ページ： 599-613  発行年： 1971年 
JST資料番号： B0731A  ISSN： 0032-678X  CODEN： PMTLA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： ドイツ語 (DE)

抄録/ポイント： X線マイクロアナライザーは,金属学,鉱物学,生物学の分野で定性的あるいは定量的に使われる。今日では定性分析は充分な結果が得られるが定量分析には問題が残されている。この論文では誤差の因子をそれぞれにとりあげて考察した。とりあげた誤差の因子は励起条件,試料準備法,分光系のくるい,統計的計数誤差,試料の不均一,標準試料の誤差,補正法に由来する誤差などである;写図4表2参17

シソーラス用語： X線マイクロアナライザ ,  定量分析

タイトルに関連する用語 (3件)： X線マイクロアナライザー ,  実験 ,  因子