抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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エミッタベース接合の上の熱的に成長したSio
2層をもつシリコンNPNブレーナトランジスタの絶縁破壊について,正のゲート電圧による絶縁破壊は酸化物中に負電荷を生じさせる現象が最近明らかになっているが(Verwey 1969),本文ではこれらの蓄積電荷の発生が,筆者が以前に酸化膜中の電気伝導その他の現象を説明するために提示したモデルによると明りょうに説明できることを示した;参8