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J-GLOBAL ID：201602001956977677   整理番号：71A0006498

偏光解析法における強度過渡性の応用

The application of intensity transients in ellipsometry.
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著者 (3件)：
BRUSIC V

BRUSIC V について

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GENSHAW M A

GENSHAW M A について

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CAHAN B D

CAHAN B D について


資料名：
Appl Opt  (Applied Optics)

Appl Opt について


巻： 9  号： 7  ページ： 1634-1638  発行年： 1970年 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 0003-6935  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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手動的に零位法で測定できないような早い変化の現象を観測するため,Rudolphfi光計に%波長板を組合わせ,強度の角度変化が0となる位置を記録する方法を用いて試料薄膜の位相変化と振幅を求める。理論的な考察と鉄の酸化膜成長についての実測例を示す;写図4表1参18
準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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位相変化

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偏光解折法

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偏光解析法

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応用

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