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J-GLOBAL ID：201602002021221422   整理番号：74A0225234

二端子素子の測定方法

De-embedding and unterminating.

著者 (2件)： BAUER R F ,  PENFIELD P JR
資料名： IEEE Trans Microw Theory  (IRE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 22  号： 3  ページ： 282-288  発行年： 1974年 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二端子素子のマイクロ波インピーダンスを直接に測定することは通常困難であり,基準面を素子からずらして測定する(Embedded)ことが一般的である。このembedding回路(例えば導波管変換器,バイアス回路,マウント空胴,パッケージなど)に対する逆回路を測定系に縦続接続して二端子素子のマイクロ波インピーダンスを直接測定する理論を述べる。unterminatingはこの測定のための手段である。測定誤差を最小によるための理論および実験(37GHzIMPATT)の結果を報告;写図10表2参6

シソーラス用語： マイクロ波測定 ,  立体回路
準シソーラス用語： インピーダンス測定 ,  マイクロ波回路

タイトルに関連する用語 (1件)： 測定方法