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文献
J-GLOBAL ID：201602002303248471
整理番号：58A0059967
部品の面からみた,信頼度の高い電子装置の設計問題
Reliable System Design by Part Engineering.
- 出版者サイト 複写サービス
- 高度な検索・分析はJDreamⅢで
WALANCE C G
WALANCE C G について
資料名：
IRE Trans Reliab Qual Con
(IRE Transactions on Reliability & Quality Control)
IRE Trans Reliab Qual Con について
巻： 1958 号： RQC14 ページ： 55-56 発行年： 1958年
JST資料番号： C0448A 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
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電子機器の信頼度を論ずるとき,その多くは統計学の問題,統計学の解釈に終始してしまうことが多く,その原因については充分に考えられていない。著者は多くの型の経験から案外技術の未熟により生ずるものが多く,また部品の無理な使用に原因するものもあるを知り,これの解決法を提案している。これにより,設計製作の誤りを比較的早く補正できて信頼度問題の多くが解決できるとしている
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タイトルに関連する用語 (3件)：
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J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
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信頼度
, 信頼度 について
電子装置
, 電子装置 について
設計
設計 について
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