抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
寿命は温度,誘電体中の電場の強さにも関係し,電場の強さと温度の限界値との関係,温度と寿命との関係を示す図を掲げて論じた。低温にすると容器内の圧力が低下して,ガス泡末が形成し,それが電離して誘電体を破壊するのでやはり寿命は短かくなる。高電圧をかけて行う破壊試験はコンデンサの寿命に関して何ら役に立たないことにも言及