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J-GLOBAL ID:201602002360292681   整理番号:64A0165727

耐トラッキソグ性皿破壊機構の例

Resistance to tracking.II.Some mechanisms of failure.
著者 (1件):
資料名:
巻:号: T419  ページ: 1-8  発行年: 1964年 
JST資料番号: D0513A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR) 
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IECの試験方法にょり,ガラスファイパー充墳のエポキシ樹脂,ポリカーボネートべークライアルキド樹脂の試料をNac1.NH4c1の汚染液によって試験した結果,破壊までの時間は電圧の2乗に逆比例するが,低電圧における破壊時間は電極部の化学変化によること,電極幅の影響は耐トラッキング性の測度ともなり,弱い材料程幅の増加に対する電圧の増加が少いこと,破壊電圧は液の導電度に対し指数関数的減少を示すこと,直流の場合は破壊電圧は高いが,一滴毎に極性を変えた場合急に低下することを示し,電極材質と電解液の化学作用も寄与していることを指摘;写2図4参1
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