文献

J-GLOBAL ID：201602002387342923   整理番号：65A0073491

系の状態図を作成するために高温度顕微鏡の応用

Применение высокотемпературного микроскопа ДЛЯ снятия диаграмм состояния солевых систем.

著者 (3件)： СТОРОЖЕНКО В Н ,  ВАЖЕНИН С Ф ,  АНТИПИН Л Н
資料名： Zh Fiz Khim  (Zhurnal Fizicheskoj Khimii)
巻： 39  号： 2  ページ： 524-526  発行年： 1965年 
JST資料番号： R0136A  ISSN： 0044-4537  CODEN： ZFKHA   資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 旧ソビエト連邦 (SUN) 

抄録/ポイント： 度顕微鏡を用いて塩系の状態図を作成す方法を開発したた。方法の利点は状態図を迅速画画くことができる点にある。NaF-NaCl,NaClーKCl,NaFーAlF3について状態態図作成成した。状態図の作成に10~15mmを要する

タイトルに関連する用語 (5件)： 系 ,  状態図 ,  高温度 ,  顕微鏡 ,  応用