抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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最近工業的要求から純光学的な方法では解決し得ない問題を電子工学的な取扱いによって解決しようとする傾向が強くなって来た。本文はこれを広い視野から概説した。可視光線,X線などの検出測定に使用する各種装置,微小スポットを得るレンズ系とその周波数レスポンスの問題,原子力関係に利用される遠隔測定,マイクロ波のスペクトル分析,測定値の読取りの電子工学的方法などに言及した